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紅外測(cè)厚儀使用時(shí)需要注意哪些事項(xiàng)?

更新時(shí)間:2024-04-08  |  點(diǎn)擊率:1320
  紅外測(cè)厚儀利用紅外光穿透物質(zhì)時(shí)的吸收、反射、散射等效應(yīng)實(shí)現(xiàn)非接觸式測(cè)量薄膜類材料的厚度,對(duì)水含量、涂布量、薄膜和熱熔膠的厚度有著十分重要的意義。
 
  紅外測(cè)厚儀有效地改善了工作環(huán)境,具有測(cè)量準(zhǔn)確、精度高、實(shí)用性好、安全可靠、非接觸式測(cè)量等優(yōu)點(diǎn),并為涂膠池、造紙工序厚度控制提供了準(zhǔn)確的信息,從而提高了生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量,降低了勞動(dòng)強(qiáng)度。
 

 

  紅外測(cè)厚儀測(cè)量的注意事項(xiàng):
  1、在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
  2、測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
  3、測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
  4、測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
  5、測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng),如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
  6、測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量,因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
  7、在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定,否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
  8、在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸,因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
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